上海三基SKS3750-P1車載電子抗擾度測試系統(tǒng)
P1脈沖泛指在切換一般性電感性負載時所產(chǎn)生的干擾,它將影響直接與這個電感性負載并聯(lián)在一起的設(shè)備的工作。 經(jīng)統(tǒng)計和優(yōu)選后提出P1脈沖的內(nèi)阻較大(10~50Ω)、電壓較高(幾十伏至幾百伏)、前沿較快(微秒級)和寬度較大(毫秒級)的負脈沖。 在整個ISO7637-2標準里屬于中等速度和中等能量的脈沖干擾,對被試設(shè)備兼顧了干擾(造成設(shè)備誤動作)和破壞(造成設(shè)備中元器件的損壞)兩方面的作用。 P2a是是由于和被試設(shè)備相并聯(lián)的設(shè)備被突然切斷電流時,在線束電感上應(yīng)生的瞬變。 由于線束的電感量較小,所以脈沖的幅度不高(幾十伏)、前沿較快(微秒級,如1微秒)、寬度較小(幾十微秒,如50微秒)和內(nèi)阻較小(如2Ω)的正脈沖。 |
|
主要產(chǎn)品特點 同軸輸出/經(jīng)過內(nèi)置耦合去耦網(wǎng)絡(luò)輸出 內(nèi)置耦合去耦網(wǎng)絡(luò)的最大工作電流:30A | |
|
上海三基SKS3750-P1車載電子抗擾度測試系統(tǒng)? 主要技術(shù)參數(shù)
發(fā)生器P1脈沖波形參數(shù) | 發(fā)生器P2a脈沖波形參數(shù) |
Us | 0~-660V(±10%) | Us | 0V~+660V(±10%) |
Ri | 2Ω,4Ω,10Ω,30Ω,50Ω | Ri | 2Ω,4Ω,10Ω,30Ω,50Ω |
td | 50μs,200μs,300μs,500μs,1000μs,2000μs(±20%) | td | 50μs,200μs,300μs,500μs,1000μs,2000μs(±20%) |
tr | 1μs(Ri =10Ω),3μs(Ri =50Ω) | tr | 1μs(Ri:2Ω) |
t1 | 0.5s至99.99s(±10%) |
t2 | 200ms | t1 | 0.5s至99.99s(±10%) |
t3 | <100μs |
發(fā)生器輸出方式 | 同軸輸出/經(jīng)過內(nèi)置耦合去耦網(wǎng)絡(luò)輸出 | 發(fā)生器輸出方式 | 同軸輸出/經(jīng)過內(nèi)置耦合去耦網(wǎng)絡(luò)輸出 |
被試品容量 | 內(nèi)置耦合去耦網(wǎng)絡(luò)的最大工作電流:30A | 被試品容量 | 內(nèi)置耦合去耦網(wǎng)絡(luò)的最大工作電流:30A |